- Tytuł:
- Impact of Buried Gate Oxide on the Electrical Performance of Negative Capacitance FinFETs: Design Perspectives
- Autorzy:
- Źródło:
- Silicon. :1-8
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.