- Tytuł :
- In situ X-ray measurements over large Q-space to study the evolution of oxide thin films prepared by RF sputter deposition
- Autorzy :
- Źródło :
- Journal of Materials Science. 56(1):290-304
-
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.