Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Schubert J"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Photoemission spectroscopy study of the lanthanum lutetium oxide/silicon interface.
Autorzy :
Nichau, A.
Schnee, M.
Schubert, J.
Besmehn, A.
Rubio-Zuazo, J.
Breuer, U.
Bernardy, P.
Holländer, B.
Mücklich, A.
Castro, G. R.
von Borany, J.
Buca, D.
Mantl, S.
Pokaż więcej
Temat :
PHOTOELECTRON spectroscopy
LANTHANUM
LUTETIUM compounds
METALLIC oxides
X-ray spectroscopy
COMPLEMENTARY metal oxide semiconductors
Źródło :
Journal of Chemical Physics; 4/21/2013, Vol. 138 Issue 15, p154709, 8p, 1 Black and White Photograph, 8 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Layer-by-layer shuttered molecular-beam epitaxial growth of superconducting Sr1-xLaxCuO2 thin films.
Autorzy :
Maritato, L.
Galdi, A.
Orgiani, P.
Harter, J. W.
Schubert, J.
Shen, K. M.
Schlom, D. G.
Pokaż więcej
Temat :
MOLECULAR beam epitaxy
EPITAXY
CRYSTAL growth
ELECTRON diffraction
SUPERCONDUCTING thin films
ELECTRON-electron interactions
Źródło :
Journal of Applied Physics; Feb2013, Vol. 113 Issue 5, p053911, 5p, 1 Color Photograph, 4 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Synthesis, structure, and electrical behavior of Sr4Bi4Ti7O24.
Autorzy :
Zurbuchen, M. A.
Sherman, V. O.
Tagantsev, A. K.
Schubert, J.
Hawley, M. E.
Fong, D. D.
Streiffer, S. K.
Jia, Y.
Tian, W.
Schlom, D. G.
Pokaż więcej
Temat :
PHYSICS research
SEMICONDUCTOR industry
FERROELECTRICITY
ELECTRIC properties of crystals
POLARIZATION (Electricity)
THIN films
X-ray diffraction
TRANSMISSION electron microscopy
Źródło :
Journal of Applied Physics; Jan2010, Vol. 107 Issue 2, p024106-024115, 9p, 2 Color Photographs, 2 Diagrams, 1 Chart, 5 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Photoconductivity of Hf-based binary metal oxide systems.
Autorzy :
Shamuilia, S.
Afanas’ev, V. V.
Stesmans, A.
McCarthy, I.
Campbell, S. A.
Boutchich, M.
Roeckerath, M.
Heeg, T.
Lopes, J. M. J.
Schubert, J.
Pokaż więcej
Temat :
ELECTRIC conductivity
METALLIC oxides
BINARY number system
ELECTRONIC structure
CHEMICAL systems
ALLOYS
PHOTOCONDUCTIVITY
Źródło :
Journal of Applied Physics; Dec2008, Vol. 104 Issue 11, p114103, 6p, 1 Chart, 3 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Critical thickness of high structural quality SrTiO3 films grown on orthorhombic (101) DyScO3.
Autorzy :
Biegalski, M. D.
Fong, D. D.
Eastman, J. A.
Fuoss, P. H.
Streiffer, S. K.
Heeg, T.
Schubert, J.
Tian, W.
Nelson, C. T.
Pan, X. Q.
Hawley, M. E.
Bernhagen, M.
Reiche, P.
Uecker, R.
Trolier-McKinstry, S.
Schlom, D. G.
Pokaż więcej
Temat :
SUBSTRATES (Materials science)
SEMICONDUCTORS
MOLECULAR beam epitaxy
PEROVSKITE
SEMICONDUCTOR films
X-ray scattering
Źródło :
Journal of Applied Physics; Dec2008, Vol. 104 Issue 11, p114109, 11p, 1 Black and White Photograph, 5 Diagrams, 10 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Effects of annealing on the electrical and interfacial properties of amorphous lanthanum scandate high-κ films prepared by molecular beam deposition.
Autorzy :
Lopes, J. M. J.
Littmark, U.
Roeckerath, M.
Lenk, St.
Schubert, J.
Mantl, S.
Besmehn, A.
Pokaż więcej
Temat :
ANNEALING of metals
THIN films
BACKSCATTERING
SPECTROMETRY
TRANSMISSION electron microscopy
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
Źródło :
Journal of Applied Physics; 5/15/2007, Vol. 101 Issue 10, p104109, 5p, 1 Black and White Photograph, 3 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies