- Tytuł:
- High-resistivity with PN interface passivation in 22 nm FD-SOI technology for low-loss passives at RF and millimeter-wave frequencies
- Autorzy:
- Źródło:
- In Solid State Electronics July 2023 205
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.