- Tytuł:
-
Monte Carlo simulation study on
secondary electron yield of SiO2 - Autorzy:
- Temat:
-
Monte Carlo
Secondary electron yield
Elastic scattering
Dielectric function
SiO2
Physics
QC1-999 - Źródło:
- Results in Physics, Vol 58, Iss , Pp 107472- (2024)
- Opis pliku:
- electronic resource
- Relacje:
- http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2211379724001542; https://doaj.org/toc/2211-3797
- Dostęp URL:
- https://doaj.org/article/769fa670913a447b8ea8d4d7878df18e  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe