- Tytuł:
- Bulk defects in nano-crystalline and in non-crystalline HfO 2-based thin film dielectrics
- Autorzy:
- Źródło:
-
In
Thin Solid Films 2008 517(1):437-440
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.