- Tytuł:
- Characterization of monolithic CMOS pixel sensor chip with ion beams for application in particle computed tomography
- Autorzy:
- Źródło:
- In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1 April 2020 958
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.