- Tytuł:
- Synchrotron X-ray topography characterization of high quality ammonothermal-grown gallium nitride substrates
- Autorzy:
- Źródło:
- In Journal of Crystal Growth 1 December 2020 551
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.