Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Ukraiński (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Wyszukujesz frazę ""Shuman, Derek B."" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Thickness measurements of nanoscale brine films on silica surfaces under geologic C02 sequestration conditions using synchrotron X-ray fluorescence.
    Autorzy:
    Tae Wook Kim
    Tokunaga, Tetsu K.
    Shuman, Derek B.
    Sutton, Stephen R.
    Newville, Matt
    Lanzirotti, Antonio
    Pokaż więcej
    Temat:
    THICKNESS measurement
    NANOTECHNOLOGY
    SILICA
    GEOLOGY
    CARBON sequestration
    STANDARD deviations
    Źródło:
    Water Resources Research; Sep2012, Vol. 48 Issue 9, p1-13, 13p
    Czasopismo naukowe
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies