Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Shvartz, N. L."" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
X-ray and infrared spectroscopy of layers produced by cosputtering of spatially separated SiO2 and Si sources.
Autorzy:
Shamin, S. N.
Galakhov, V. R.
Aksenova, V. I.
Karpov, A. N.
Shvartz, N. L.
Yanovitskaya, Z. Sh.
Volodin, V. A.
Antonova, I. V.
Ezhevskaya, T. B.
Jedrzejewski, J.
Savir, E.
Balberg, I.
Pokaż więcej
Temat:
X-ray spectroscopy
SILICON
SILICON oxide
NANOCRYSTALS
INFRARED spectroscopy
Źródło:
Semiconductors; Apr2010, Vol. 44 Issue 4, p531-536, 6p, 1 Diagram, 6 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł:
X-ray and infrared spectroscopy of layers produced by cosputtering of spatially separated SiO2 and Si sources.
Autorzy:
Shamin, S. N.
Galakhov, V. R.
Aksenova, V. I.
Karpov, A. N.
Shvartz, N. L.
Yanovitskaya, Z. Sh.
Volodin, V. A.
Antonova, I. V.
Ezhevskaya, T. B.
Jedrzejewski, J.
Savir, E.
Balberg, I.
Pokaż więcej
Źródło:
Semiconductors. Apr2010, Vol. 44 Issue 4, p531-536. 6p. 1 Diagram, 6 Graphs.
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies