Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Sikorski K"" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Metody ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw na podłożachMateriały Elektroniczne 1987 nr 2(58)Metody ilościowej mikroanalizy rent5geowskiej cienkich warstw na podłożach = Correction methods in quantitative electron probe X-ray microanalysis of thin coatingsMateriały Elektroniczne 1987 nr 2(58)
Autorzy:
Szummer Andrzej
Szummer Andrzej
Sikorski Krzysztof
Sikorski Krzysztof
Pokaż więcej
Dostęp URL:
https://www.europeana.eu/item/0940431/_nnbZ9Zx?utm_source=api&utm_medium=api&utm_campaign=YuvuWBeCa  Link otwiera się w nowym oknie

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies