- Tytuł:
- X-ray Reflecto-Interferometry Technique Using a Microfocus Laboratory Source
- Autorzy:
- Źródło:
- Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 15(1):39-45
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.