- Tytuł:
- Mechanical stress in a tapered channel hole of 3D NAND flash memory
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability April 2023 143
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.