Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Stedman, M."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Combined Optical and X-ray Interferometry for High-Precision Dimensional Metrology
Autorzy:
Basile, G.
Becker, P.
Bergamin, A.
Cavagnero, G.
Franks, A.
Jackson, K.
Kuetgens, U.
Mana, G.
Palmer, E. W.
Robbie, C. J.
Stedman, M.
Stümpel, J.
Yacoot, A.
Zosi, G.
Pokaż więcej
Źródło:
Proceedings: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 2000 Mar 01. 456(1995), 701-729.
Dostęp URL:
https://www.jstor.org/stable/1586004  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies