- Tytuł:
- Digital pixel test structures implemented in a 65 nm CMOS process
- Autorzy:
- Źródło:
- In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A November 2023 1056
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.