Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Sunaga, H."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Factors determining the lifetime damage coefficients and the low-frequency noise in MeV proton irradiated silicon diodes
Autorzy:
Simoen, E.
Claeys, C.
Ohyama, H.
Takami, Y.
Sunaga, H.
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry: An International Journal Dealing with All Aspects and Applications of Nuclear Chemistry. January 1999 239(1):207-211
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies