Autor: "Swerts J" - OpacWWW

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Effect of nitrogen doping on the structure of metastable β-W on SiO2
Autorzy:: Hon, K.
Couet, S.
Kumar Vudya Sethu, K.
Swerts, J.
Kar, G.S.; Pokaż więcej
Źródło:: In Thin Solid Films 31 August 2021 732

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Understanding the EOT–Jg degradation in Ru/SrTiOx/Ru metal–insulator–metal capacitors formed with Ru atomic layer deposition
Autorzy:: Popovici, M.
Redolfi, A.
Aoulaiche, M.
van den Berg, J.A.
Douhard, B.
Swerts, J.
Bailey, P.
Kaczer, B.
Groven, B.
Meersschaut, J.
Conard, T.
Moussa, A.
Adelmann, C.
Delabie, A.
Fazan, P.
Van Elshocht, S.
Jurczak, M.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 1 November 2015 147:108-112

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: SrTiOx for sub-20 nm DRAM technology nodes—Characterization and modeling
Autorzy:: Kaczer, B.
Larcher, L.
Vandelli, L.
Reisinger, H.
Popovici, M.
Clima, S.
Ji, Z.
Joshi, S.
Swerts, J.
Redolfi, A.
Afanas’ev, V.V.
Jurczak, M.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 1 November 2015 147:126-129

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Scaled X-bar TiN/HfO2/TiN RRAM cells processed with optimized plasma enhanced atomic layer deposition (PEALD) for TiN electrode
Autorzy:: Chen, Y.Y.
Goux, L.
Pantisano, L.
Swerts, J.
Adelmann, C.
Mertens, S.
Afanasiev, V.V.
Wang, X.P.
Govoreanu, B.
Degraeve, R.
Kubicek, S.
Paraschiv, V.
Verbrugge, B.
Jossart, N.
Altimime, L.
Jurczak, M.
Kittl, J.
Groeseneken, G.
Wouters, D.J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering December 2013 112:92-96

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Chemisorption of ALD precursors in and on porous low-k films
Autorzy:: Verdonck, P.
Delabie, A.
Swerts, J.
Farrell, L.
Baklanov, M.R.
Tielens, H.
Van Besien, E.
Witters, T.
Nyns, L.
Van Elshocht, S.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering June 2013 106:81-84

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Rare-earth aluminates as a charge trapping materials for NAND flash memories: Integration and electrical evaluation
Autorzy:: Suhane, A.
Cacciato, A.
Richard, O.
Arreghini, A.
Adelmann, C.
Swerts, J.
Rothschild, O.
Van den bosch, G.
Breuil, L.
Bender, H.
Jurczak, M.
Debusschere, I.
Kittl, J.A.
De Meyer, K.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Solid State Electronics November-December 2011 65-66:177-183

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Room-temperature CO 2 sensing using metal–insulator–semiconductor capacitors comprising atomic-layer-deposited La 2O 3 thin films
Autorzy:: Jinesh, K.B.
Dam, V.A.T.
Swerts, J.
de Nooijer, C.
van Elshocht, S.
Brongersma, S.H.
Crego-Calama, M.; Pokaż więcej
Źródło:: In Sensors & Actuators: B. Chemical 2011 156(1):276-282

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: High- k dielectrics for future generation memory devices (Invited Paper)
Autorzy:: Kittl, J.A.
Opsomer, K.
Popovici, M.
Menou, N.
Kaczer, B.
Wang, X.P.
Adelmann, C.
Pawlak, M.A.
Tomida, K.
Rothschild, A.
Govoreanu, B.
Degraeve, R.
Schaekers, M.
Zahid, M.
Delabie, A.
Meersschaut, J.
Polspoel, W.
Clima, S.
Pourtois, G.
Knaepen, W.
Detavernier, C.
Afanas’ev, V.V.
Blomberg, T.
Pierreux, D.
Swerts, J.
Fischer, P.
Maes, J.W.
Manger, D.
Vandervorst, W.
Conard, T.
Franquet, A.
Favia, P.
Bender, H.
Brijs, B.
Van Elshocht, S.
Jurczak, M.
Van Houdt, J.
Wouters, D.J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1789-1795

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Sr excess accommodation in ALD grown SrTiO 3 and its impact on the dielectric response
Autorzy:: Clima, S.
Pourtois, G.
Menou, N.
Popovici, M.
Rothschild, A.
Kaczer, B.
Van Elshocht, S.
Wang, X.P.
Swerts, J.
Pierreux, D.
De Gendt, S.
Wouters, D.J.
Kittl, J.A.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1936-1938

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Performance improvement in narrow MuGFETs by gate work function and source/drain implant engineering
Autorzy:: Ferain, I.
Duffy, R.
Collaert, N.
van Dal, M.J.H.
Pawlak, B.J.
O’Sullivan, B.
Witters, L.
Rooyackers, R.
Conard, T.
Popovici, M.
van Elshocht, S.
Kaiser, M.
Weemaes, R.G.R.
Swerts, J.
Jurczak, M.
Lander, R.J.P.
De Meyer, K.; Pokaż więcej
Źródło:: In Solid State Electronics 2009 53(7):760-766

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Magnetization reversal in patterned structures using off-specular polarized neutron scattering
Autorzy:: Temst, K.
Van Bael, M.J.
Swerts, J.
Buntinx, D.
Loosvelt, H.
Popova, E.
Van Haesendonck, C.
Fritzsche, H.
Gierlings, M.
Leunissen, L.H.A.
Jonckheere, R.; Pokaż więcej
Źródło:: In Journal of Magnetism and Magnetic Materials November 2004 282:6-10

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Surface roughness effects on the magnetization reversal of polycrystalline Fe/Ag thin films
Autorzy:: Swerts, J
Vandezande, S
Temst, K
Van Haesendonck, C; Pokaż więcej
Źródło:: In Solid State Communications 2004 131(6):359-363

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Polarized neutron reflectometry on lithographically patterned thin film structures
Autorzy:: Temst, K.
Van Bael, M.J.
Swerts, J.
Loosvelt, H.
Popova, E.
Buntinx, D.
Bekaert, J.
Van Haesendonck, C.
Bruynseraede, Y.
Jonckheere, R.
Fritzsche, H.; Pokaż więcej
Źródło:: In Superlattices and Microstructures 2003 34(1):87-105

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Interplay between surface roughness and magnetic properties in Ag/Fe bilayers
Autorzy:: Swerts, J.
Temst, K.
Vandamme, N.
Van Haesendonck, C.
Bruynseraede, Y.; Pokaż więcej
Źródło:: In Journal of Magnetism and Magnetic Materials 2002 240(1):380-382

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Correlation between structural and magnetic properties of thin Fe xCo 1− x(1 1 0) films on sapphire
Autorzy:: Swerts, J
Temst, K
Vandamme, N
Opperdoes, B
Van Haesendonck, C
Bruynseraede, Y; Pokaż więcej
Źródło:: In Thin Solid Films 2002 413(1):212-217

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę ""Swerts J"" wg kryterium: Autor

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Temat

Wydawca

Publikacja

Język

Rok publikacji