Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""TEST EQUIPMENT"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
Performance-binning and yield-improvement by clock-edge adjusted circuit for multi-Vdd multi-Vth designed chips
Autorzy :
Cheng, Ching-Hwa
Pokaż więcej
Źródło :
Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal. :1-10
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Development of an Automatic Contactless Thermometer Alert System Based on GPS and Population Density.
Autorzy :
Al-Shammari, Naif K.
Almansour, Husam B.
Syed, Muzamil Basha
Pokaż więcej
Temat :
POPULATION density
AUTOMATIC test equipment
GLOBAL Positioning System
SOCIAL distancing
MEDICAL thermometers
COVID-19
THERMOMETERS
ARTIFICIAL satellite tracking
Źródło :
Engineering, Technology & Applied Science Research; Apr2021, Vol. 11 Issue 2, p7006-7010, 5p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies