Temat: "TEST EQUIPMENT" - OpacWWW

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""TEST EQUIPMENT"" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-19 z 19

Zaznacz stronę

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Multiple Retest Systems for Screening High-Quality Chips.
Autorzy:: Yeh, Chung-Huang (AUTHOR)
Chen, Jwu E. (AUTHOR); Pokaż więcej
Źródło:: Journal of Electronic Testing. Apr2023, Vol. 39 Issue 2, p207-225. 19p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: A LabVIEW based automatic test system for sieving chips
Autorzy:: Wang, Zhongyuan
Shang, Yongheng
Liu, Jiarui
Wu, Xidong; Pokaż więcej
Źródło:: Measurement (02632241). Jan2013, Vol. 46 Issue 1, p402-410. 9p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: A Built-in Self-Test Scheme for Memory Interfaces Timing Test and Measurement.
Autorzy:: Kim, Hyun
Abraham, Jacob; Pokaż więcej
Źródło:: Journal of Electronic Testing. Oct2012, Vol. 28 Issue 5, p585-597. 13p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: An efficient method to determine linear feedback connections in shift registers that generate...
Autorzy:: Ahmad, A.
Elabdalla, A.M.; Pokaż więcej
Źródło:: Computers & Electrical Engineering. Jan1997, Vol. 23 Issue 1, p33. 6p. 1 Diagram, 1 Graph.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: An equivalent processing method for integrated circuit electrical parameter data using BP neural networks.
Autorzy:: Zhan, Wenfa (AUTHOR)
Zhang, Luping (AUTHOR)
Feng, Xuejun (AUTHOR)
Pan, Pan (AUTHOR)
Cai, Xueyuan (AUTHOR)
Wen, Xiaoqing (AUTHOR); Pokaż więcej
Źródło:: Microelectronics Journal. Sep2023, Vol. 139, pN.PAG-N.PAG. 1p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Circuit Architecture Test Verification Based on Hardware Software Co-design with ModelSim.
Autorzy:: Das, Sunil R.
Jun-Feng Li
Nayak, Amiya R.
Assaf, Mansour H.
Petriu, Emil M.
Biswas, Satyendra N.; Pokaż więcej
Temat:: VERILOG (Computer hardware description language)
DIGITAL electronics
INTEGRATED circuits
AUTOMATIC test equipment
PROGRAMMING languages
Źródło:: IETE Journal of Research; Mar/Apr2013, Vol. 59 Issue 2, p132-140, 9p

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Scalable ATE System Spins Out Two Developments For The Bargain Hunter.
Autorzy:: Allan, Roger; Pokaż więcej
Źródło:: Electronic Design. 12/8/2004, Vol. 52 Issue 27, p36-36. 2/5p.

Periodyk

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Test and component makers address ESD, EMI concerns.
Autorzy:: Nelson, Rick; Pokaż więcej
Źródło:: EE: Evaluation Engineering. Dec2014, Vol. 53 Issue 12, p22-22. 1p.

Periodyk

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Applying Kelvin Measurements To PMIC Testing on ATE.
Autorzy:: Luehman, Kent; Pokaż więcej
Źródło:: EE: Evaluation Engineering. Nov2007, Vol. 46 Issue 11, p32-37. 5p.

Periodyk

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Embedded Compression For Production Test. (cover story)
Autorzy:: Press, Ron; Pokaż więcej
Temat:: MATERIALS compression testing
COMMERCIAL product testing
INTEGRATED circuits
AUTOMATIC test equipment
NONDESTRUCTIVE testing
MANUFACTURING defects
Źródło:: EE: Evaluation Engineering; Oct2007, Vol. 46 Issue 10, p30-37, 6p

Periodyk

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Test Pattern Compression Saves Time and Bits.
Autorzy:: Lecklider, Tom; Pokaż więcej
Temat:: DATA compression (Telecommunication)
DATA transmission systems
INTEGRATED circuits
AUTOMATIC test equipment
INFORMATION & communication technologies
Źródło:: EE: Evaluation Engineering; Jul2005, Vol. 44 Issue 7, p32-37, 5p, 4 Diagrams

Periodyk

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: CAFES: A framework for intrachip application modeling and communication architecture design
Autorzy:: Marcon, César
Calazans, Ney
Moreno, Edson
Moraes, Fernando
Hessel, Fabiano
Susin, Altamiro; Pokaż więcej
Źródło:: Journal of Parallel & Distributed Computing. May2011, Vol. 71 Issue 5, p714-728. 15p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: RF MEMS Switches Are Primed For Mass-Market Applications.
Autorzy:: ALLAN, ROGER; Pokaż więcej
Temat:: MICROELECTROMECHANICAL switches
MICROELECTROMECHANICAL systems
RADIO frequency
INTEGRATED circuits
AUTOMATIC test equipment
AEROSPACE industries
Źródło:: Microwaves & RF; May2013, Vol. 52 Issue 5, p48-51, 3p, 2 Color Photographs

Periodyk

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: Inside TRACK with Bruce Devine, CEO, Signal Hound, Inc.
Autorzy:: DELISLE, JEAN-JACQUES; Pokaż więcej
Temat:: ETHERNET
INTEGRATED circuits
USB technology
AUTOMATIC test equipment
Źródło:: Microwaves & RF; Dec2014, Vol. 53 Issue 12, p34-35, 2p, 1 Color Photograph
Ludzie:: DEVINE, Bruce

Periodyk

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Sequence Your Power-Supply Outputs To Ensure Performance.
Autorzy:: Zollo, Bob; Pokaż więcej
Temat:: ELECTRIC power supplies to apparatus
VOLTAGE regulators
INTEGRATED circuits
ELECTRIC potential
AUTOMATIC test equipment
Źródło:: Electronic Design; 6/9/2011, Vol. 59 Issue 7, p18-20, 2p, 1 Color Photograph, 1 Diagram

Periodyk

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Diagnostic Test Generation for Transition Delay Faults Using Stuck-At Fault Detection Tools.
Autorzy:: Zhang, Yu
Zhang, Bei
Agrawal, Vishwani; Pokaż więcej
Źródło:: Journal of Electronic Testing. Dec2014, Vol. 30 Issue 6, p763-780. 18p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: An on-chip frequency programmable test clock generation and application method for small delay defect detection.
Autorzy:: Pei, Songwei
Li, Huawei
Jin, Song
Liu, Jun
Li, Xiaowei; Pokaż więcej
Źródło:: Integration: The VLSI Journal. Mar2015, Vol. 49, p87-97. 11p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: K-Aggressor Fault (KAF)-based Thru-Silicon-Via Interconnect Built-In Self-Test and Diagnosis.
Autorzy:: Pasca, Vladimir
Anghel, Lorena
Benabdenbi, Mounir; Pokaż więcej
Źródło:: Journal of Electronic Testing. Dec2012, Vol. 28 Issue 6, p817-829. 13p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-19 z 19

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę ""TEST EQUIPMENT"" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Temat

Wydawca

Publikacja

Język

Rok publikacji