Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""THRESHOLD voltage"" wg kryterium: Temat


Tytuł:
Design and Analysis of Nanosheet Field-Effect Transistor for High-Speed Switching Applications.
Autorzy:
Kumar, Ravi (AUTHOR)
Kumar, E. Sathish (AUTHOR)
Vijayalakshmi, S. (AUTHOR)
Prasad, Dumpa (AUTHOR)
Mohamedyaseen, A. (AUTHOR)
Choubey, Shruti Bhargava (AUTHOR)
Vignesh, N. Arun (AUTHOR)
Johnson Santhosh, A. (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Nanomaterials. 7/24/2023, p1-7. 7p.
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Modulating p-type doping of two dimensional material palladium diselenide.
Autorzy:
Yang, Jiali
Liu, Yu
Wang, En-Yang
Pang, Jinbo
Huang, Shirong
Gemming, Thomas
Bi, Jinshun
Bachmatiuk, Alicja
Jia, Hao
Hu, Shu-Xian
Jiang, Chongyun
Liu, Hong
Cuniberti, Gianaurelio
Zhou, Weijia
Rümmeli, Mark H.
Pokaż więcej
Temat:
THRESHOLD voltage
PALLADIUM
LEWIS acids
PRECIOUS metals
SEMICONDUCTOR technology
Źródło:
Nano Research; Apr2024, Vol. 17 Issue 4, p3232-3244, 13p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
The Effect of Low-Temperature Annealing on the Electrical Characteristics of Carbon Nanotube Network Field-Effect Transistors.
Autorzy:
Altuntas, Halit
Oke-Altuntas, Feyza
Silva, S. R. P.
Pokaż więcej
Temat:
FIELD-effect transistors
CARBON nanotubes
ANNEALING of metals
THRESHOLD voltage
TRANSISTORS
METAL oxide semiconductor field-effect transistors
HYSTERESIS
Źródło:
Journal of Electronic Materials; Apr2024, Vol. 53 Issue 4, p2104-2114, 11p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Dielectric multilayers impact on radiation-induced charge accumulation in highly sensitive oxide field effect transistors.
Autorzy:
Bordoni, Camilla
Ciavatti, Andrea
Cortinhal, Mariana
Pereira, Maria
Cramer, Tobias
Barquinha, Pedro
Fraboni, Beatrice
Pokaż więcej
Temat:
FIELD-effect transistors
SOLID state detectors
DIELECTRICS
ATOMIC layer deposition
X-rays
THRESHOLD voltage
TRANSISTORS
Źródło:
APL Materials; Mar2024, Vol. 12 Issue 3, p1-7, 7p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Fast Methods for Studying the Effect of Electrical Stress on SiO2 Dielectrics in Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors.
Autorzy:
Messaoud, Dhia Elhak
Djezzar, Boualem
Boubaaya, Mohamed
Chenouf, Amel
Benabdelmoumene, Abdelmadjid
Zatout, Boumediene
Zitouni, Abdelkader
Pokaż więcej
Temat:
METAL oxide semiconductor field-effect transistors
FIELD-effect transistors
DIELECTRIC devices
DIELECTRICS
THRESHOLD voltage
FIELD-effect devices
Źródło:
Instruments & Experimental Techniques; Dec2023, Vol. 66 Issue 6, p1095-1105, 11p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Analytical investigation of a triple surrounding gate germanium source metal–oxide–semiconductor field‐effect transistor with step graded channel for biosensing applications.
Autorzy:
Das, Amit
Rewari, Sonam
Kanaujia, Binod Kumar
Deswal, S. S.
Gupta, R. S.
Pokaż więcej
Temat:
METAL oxide semiconductor field-effect transistors
FIELD-effect transistors
POISSON'S equation
GERMANIUM
THRESHOLD voltage
ELECTRIC fields
Źródło:
International Journal of Numerical Modelling; Nov2023, Vol. 36 Issue 6, p1-25, 25p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies