- Tytuł:
- Evaluation of electron irradiated embedded SiGe source/drain diodes by Raman spectroscopy
- Autorzy:
- Źródło:
-
In
Microelectronic Engineering 2011 88(4):484-487
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.