- Tytuł :
- Reducing Corn Yield Variability and Enhancing Yield Through the Use of Corn-Specific Growth Models.
- Autorzy :
- Źródło :
- Journal of Crop Improvement. Oct-Dec2009, Vol. 23 Issue 4, p467-485. 19p. 5 Charts, 6 Graphs.
-
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.