Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Tohei, T."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Microstructural analysis in the depth direction of a heteroepitaxial AlN thick film grown on a trench-patterned template by nanobeam X-ray diffraction.
Autorzy :
Shida, K.
Takeuchi, S.
Tohei, T.
Miyake, H.
Hiramatsu, K.
Sumitani, K.
Imai, Y.
Kimura, S.
Sakai, A.
Pokaż więcej
Temat :
THICK films
MICROSTRUCTURE
X-ray diffraction
CRYSTAL lattices
EPITAXY
Źródło :
Journal of Applied Physics; 2018, Vol. 123 Issue 16, pN.PAG-N.PAG, 7p, 2 Diagrams, 1 Chart, 5 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies