- Tytuł:
- Structural and Dielectric Study of Thin Amorphous Layers of the Ge–Sb–Te System Prepared by RF Magnetron Sputtering
- Autorzy:
- Źródło:
- Semiconductors. 54(2):201-204
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.