Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Usuda, K."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Application of spectroscopic photoemission and low energy electron microscope to high- k gate dielectrics: Relationship between surface morphology and electronic states during Hf-silicide formation
Autorzy :
Yasuhara, R.
Pokaż więcej
Źródło :
In Applied Surface Science 2008 254(15):4757-4761
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies