Autor: "Uzhakov, I. N." - OpacWWW - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Uzhakov, I. N."" wg kryterium: Autor

Wyświetlanie 1-7 z 7

Zaznacz stronę

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Energy Position of the Size Quantization Levels in Multiple HgCdTe Quantum Wells
Autorzy:: Mikhailov, N. N.Aff1, IDS1062873823702167_cor1
Remesnik, V. G.
Aleshkin, V. Ya.
Dvoretsky, S. A.
Uzhakov, I. N.
Shvets, V. A.Aff1, Aff3; Pokaż więcej
Źródło:: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 87(6):755-759

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Preparation of Atomically Clean and Structurally Ordered Surfaces of Epitaxial CdTe Films for Subsequent Epitaxy
Autorzy:: Tarasov, A. S.Aff1, IDS1063782621090220_cor1
Mikhailov, N. N.Aff1, Aff2
Dvoretsky, S. A.Aff1, Aff3
Menshchikov, R. V.
Uzhakov, I. N.
Kozhukhov, A. S.
Fedosenko, E. V.
Tereshchenko, O. E.Aff1, Aff2; Pokaż więcej
Źródło:: Semiconductors. 55(Suppl 1):S62-S66

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Determining the Compositional Profile of HgTe/CdxHg1 – xTe Quantum Wells by Single-Wavelength Ellipsometry
Autorzy:: Shvets, V. A.Aff1, Aff2
Mikhailov, N. N.Aff1, Aff2
Ikusov, D. G.
Uzhakov, I. N.
Dvoretskii, S. A.Aff1, Aff3; Pokaż więcej
Źródło:: Optics and Spectroscopy. 127(2):340-346

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Polarization Pyrometry of Layered Semiconductor Structures under Conditions of Low-Temperature Technological Processes
Autorzy:: Azarov, I. A.Aff1, Aff2
Shvets, V. A.Aff1, Aff2
Dulin, S. A.
Mikhailov, N. N.Aff1, Aff2
Dvoretskii, S. A.Aff1, Aff3
Ikusov, D. G.
Uzhakov, I. N.
Rykhlitskii, S. V.; Pokaż więcej
Źródło:: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 53(6):630-638

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: HgCdTe structures for dual-band photodetectors operating in the 3–5 and 8–12 µm spectral ranges
Autorzy:: Varavin, V. S.
Dvoretskii, S. A.
Ikusov, D. G.
Mikhailov, N. N.
Remesnik, V. G.
Sidorov, G. Yu.
Sidorov, Yu. G.
Sizikov, P. N.
Uzhakov, I. N.; Pokaż więcej
Źródło:: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. September 2013 49(5):476-484

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Determining the Compositional Profile of HgTe/CdxHg1 – xTe Quantum Wells by Single-Wavelength Ellipsometry.
Autorzy:: Shvets, V. A.
Mikhailov, N. N.
Ikusov, D. G.
Uzhakov, I. N.
Dvoretskii, S. A.; Pokaż więcej
Temat:: QUANTUM wells
MOLECULAR beam epitaxy
MERCURY
ELLIPSOMETRY
TELLURIUM
OPTICAL constants
INVERSE problems
Źródło:: Optics & Spectroscopy; Aug2019, Vol. 127 Issue 2, p340-346, 7p

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: HgCdTe structures for dual-band photodetectors operating in the 3–5 and 8–12 µm spectral ranges.
Autorzy:: Varavin, V. S.
Dvoretskii, S. A.
Ikusov, D. G.
Mikhailov, N. N.
Remesnik, V. G.
Sidorov, G. Yu.
Sidorov, Yu. G.
Sizikov, P. N.
Uzhakov, I. N.; Pokaż więcej
Źródło:: Optoelectronics Instrumentation & Data Processing; Sep2013, Vol. 49 Issue 5, p476-484, 9p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-7 z 7

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies