- Tytuł:
- Scanning tunneling microscopy for imaging and quantification of defects in as-deposited MoS[formula omitted] monolayers on sapphire substrates
- Autorzy:
- Źródło:
- In Solid State Electronics November 2023 209
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.