Autor: "Van Houdt, J" - OpacWWW

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Performance and precision of double digestion RAD (ddRAD) genotyping in large multiplexed datasets of marine fish species
Autorzy:: Maroso, F.
Hillen, J.E.J.
Pardo, B.G.
Gkagkavouzis, K.
Coscia, I.
Hermida, M.
Franch, R.
Hellemans, B.
Van Houdt, J.
Simionati, B.
Taggart, J.B.
Nielsen, E.E.
Maes, G.
Ciavaglia, S.A.
Webster, L.M.I.
Volckaert, F.A.M.
Martinez, P.
Bargelloni, L.
Ogden, R.; Pokaż więcej
Źródło:: In Marine Genomics June 2018 39:64-72

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Demonstration of 2e12 cm− 2 eV− 1 2D-oxide interface trap density on back-gated MoS2 flake devices with 2.5 nm EOT
Autorzy:: Gaur, A.
Balaji, Y.
Lin, D.
Adelmann, C.
Van Houdt, J.
Heyns, M.
Mocuta, D.
Radu, I.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 25 June 2017 178:145-149

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Modeling of uniform switching RRAM devices and impact of critical defects
Autorzy:: Subhechha, S.
Degraeve, R.
Roussel, P.
Goux, L.
Clima, S.
De Meyer, K.
Van Houdt, J.
Kar, G.S.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 25 June 2017 178:93-97

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Assessment of tunnel oxide and poly-Si channel traps in 3D SONOS memory before and after P/E cycling
Autorzy:: Lee, K.H.
Degraeve, R.
Toledano-Luque, M.
Arreghini, A.
Breuil, L.
Blomme, P.
Van den bosch, G.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 1 November 2015 147:45-50

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Positive non-linear capacitance: the origin of the steep subthreshold-slope in ferroelectric FETs
Autorzy:: Alam, Md Nur K.Aff1, Aff2
Roussel, P.
Heyns, M.Aff1, Aff2
Van Houdt, J.Aff1, Aff3; Pokaż więcej
Źródło:: Scientific Reports. 9(1)

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Statistical characterization of vertical poly-Si channel using charge pumping technique for 3D flash memory optimization
Autorzy:: Tang, Baojun
Toledano-Luque, M.
Zhang, W.D.
Van den bosch, G.
Degraeve, R.
Zhang, J.F.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering September 2013 109:39-42

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Comprehensive investigation of the impact of lateral charge migration on retention performance of planar and 3D SONOS devices
Autorzy:: Maconi, A.
Arreghini, A.
Monzio Compagnoni, C.
Van den bosch, G.
Spinelli, A.S.
Van Houdt, J.
Lacaita, A.L.; Pokaż więcej
Źródło:: In Solid State Electronics August 2012 74:64-70

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Rare-earth aluminates as a charge trapping materials for NAND flash memories: Integration and electrical evaluation
Autorzy:: Suhane, A.
Cacciato, A.
Richard, O.
Arreghini, A.
Adelmann, C.
Swerts, J.
Rothschild, O.
Van den bosch, G.
Breuil, L.
Bender, H.
Jurczak, M.
Debusschere, I.
Kittl, J.A.
De Meyer, K.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Solid State Electronics November-December 2011 65-66:177-183

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Optimization of gate stack parameters towards 3D-SONOS application
Autorzy:: Breuil, L.
Van den bosch, G.
Cacciato, A.
Date, L.
Kar, G.S.
Tang, B.
Arreghini, A.
Debusschere, I.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 2011 88(7):1164-1167

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Effect of high temperature annealing on tunnel oxide properties in TANOS devices
Autorzy:: Arreghini, A.
Zahid, M.B.
Van den bosch, G.
Suhane, A.
Breuil, L.
Cacciato, A.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 2011 88(7):1155-1158

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Source-Side Injection Modeling by Means of the Spherical-Harmonics Expansion of the BTE
Autorzy:: Lorenzini, M.
Wellekens, D.
Haspeslagh, L.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2004. :89-92

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: A Figure of Merit for Flash Memory Multi-Layer Tunnel Dielectrics
Autorzy:: Govoreanu, B.Aff2, Aff3
Blomne, P.Aff2, Aff3
Rosmeulen, M.Aff2, Aff3
Van Houdt, J.
De Meyer, K.Aff2, Aff3; Pokaż więcej
Źródło:: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2001 : SISPAD 01. :270-273

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: High- k dielectrics for future generation memory devices (Invited Paper)
Autorzy:: Kittl, J.A.
Opsomer, K.
Popovici, M.
Menou, N.
Kaczer, B.
Wang, X.P.
Adelmann, C.
Pawlak, M.A.
Tomida, K.
Rothschild, A.
Govoreanu, B.
Degraeve, R.
Schaekers, M.
Zahid, M.
Delabie, A.
Meersschaut, J.
Polspoel, W.
Clima, S.
Pourtois, G.
Knaepen, W.
Detavernier, C.
Afanas’ev, V.V.
Blomberg, T.
Pierreux, D.
Swerts, J.
Fischer, P.
Maes, J.W.
Manger, D.
Vandervorst, W.
Conard, T.
Franquet, A.
Favia, P.
Bender, H.
Brijs, B.
Van Elshocht, S.
Jurczak, M.
Van Houdt, J.
Wouters, D.J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1789-1795

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Understanding the potential and limitations of HfAlO as interpoly dielectric in floating-gate Flash memory
Autorzy:: Govoreanu, B.
Degraeve, R.
Zahid, M.B.
Nyns, L.
Cho, M.
Kaczer, B.
Jurczak, M.
Kittl, J.A.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1807-1811

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Impact of PDA temperature on electron trap energy and spatial distributions in SiO 2/Al 2O 3 stack as the IPD in Flash memory cells
Autorzy:: Zheng, X.F.
Zhang, W.D.
Govoreanu, B.
Zhang, J.F.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1834-1837

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Mining for Single Nucleotide Polymorphisms in Expressed Sequence Tags of European Sea Bass
Autorzy:: Souche E. L.
Hellemans B.
Van Houdt J. K. J.
Canario A.
Klages S.
Reinhardt R.
Volckaert F. A. M.; Pokaż więcej
Temat:: Biotechnology
TP248.13-248.65
Źródło:: Journal of Integrative Bioinformatics, Vol 4, Iss 3, Pp 158-167 (2007)
Opis pliku:: electronic resource
Relacje:: https://doaj.org/toc/1613-4516
Dostęp URL:: https://doaj.org/article/2cebc21b46a6473c9e2e761ff16f660c Link otwiera się w nowym oknie

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Performance and reliability of HfAlO x-based interpoly dielectrics for floating-gate Flash memory
Autorzy:: Govoreanu, B.
Wellekens, D.
Haspeslagh, L.
Brunco, D.P.
De Vos, J.
Aguado, D. Ruiz
Blomme, P.
van der Zanden, K.
Van Houdt, J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Solid State Electronics 2008 52(4):557-563

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę ""Van Houdt, J"" wg kryterium: Autor

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Temat

Wydawca

Publikacja

Język

Rok publikacji