Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Van Tongeren, Daryl R."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Is There a Dark Side to Humility? Cross-Sectional and Longitudinal Evidence for Existential Costs of Humility.
Autorzy:
Van Tongeren, Daryl R. (AUTHOR)
Severino, Matthew (AUTHOR)
Kojima, Yuki (AUTHOR)
Miskowski, Kirsten (AUTHOR)
Blank, Sabrina (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło:
International Journal for the Psychology of Religion. Apr-Jun2023, Vol. 33 Issue 2, p136-150. 15p.
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies