- Tytuł:
- Enabling focused ion beam sample preparation for application in reverse tip sample scanning probe microscopy
- Autorzy:
- Źródło:
- In Micro and Nano Engineering June 2024 23
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.