Autor: "Vautrin, F." - OpacWWW

Skocz do pozycji: 1 1.

Tytuł :: Assessment of VITEK® MS IVD database V3.0 for identification of Nocardia spp. using two culture media and comparing direct smear and protein extraction procedures
Autorzy :: Durand, T.
Vautrin, F.
Bergeron, E.
Girard, V.
Polsinelli, S.
Monnin, V.
Durand, G.
Dauwalder, O.
Dumitrescu, O.
Laurent, F.
Rodríguez-Nava, V.Aff1, Aff2; Pokaż więcej
Źródło :: European Journal of Clinical Microbiology & Infectious Diseases. 39(3):559-567
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2 2.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3 3.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4 4.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5 5.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6 6.

Tytuł :: Mobile clinical teams for stroke and neurological handicaps in the community: A pilot project in the Île-de-France area
Autorzy :: Josse, L.; Pokaż więcej
Źródło :: In 30th Annual Congress of the French Society of Physical and Rehabilitation Medicine, Annals of Physical and Rehabilitation Medicine September 2015 58 Supplement 1:e59-e59
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7 7.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8 8.

Tytuł :: Study of SRAF placement for contact at 45 nm and 32 nm node.
Autorzy :: Farys, V.
Robert, F.
Martinelli, C.
Trouiller, Y.
Sundermann, F.
Gardin, C.
Planchot, J.
Kerrien, G.
Vautrin, F.
Saied, M.
Yesilada, E.
Foussadier, F.
Villaret, A.
Perraud, L.
Vandewalle, B.
Le Denmat, J. C.
Top, M. K.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2008 Part 2, Issue 1, p69242Z-69242Z-7, 7p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9 9.

Tytuł :: Model-based mask verification on critical 45nm logic masks.
Autorzy :: Sundermann, F.
Foussadier, F.
Takigawa, T.
Wiley, J.
Vacca, A.
Depre, L.
Chen, G.
Bai, S.
Wang, J.-S.
Howell, R.
Arnoux, V.
Hayano, K.
Narukawa, S.
Kawashima, S.
Mohri, H.
Hayashi, N.
Miyashita, H.
Trouiller, Y.
Robert, F.
Vautrin, F.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2008 Part 2, Issue 1, p70280U-70280U-12, 12p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10 10.

Tytuł :: Three-dimensional mask effects and source polarization impact on OPC model accuracy and process window.
Autorzy :: Saied, M.
Foussadier, F.
Belledent, J.
Trouiller, Y.
Schanen, I.
Gardin, C.
Urbani, J. C.
Montgomery, P. K.
Sundermann, F.
Robert, F.
Couderc, C.
Vautrin, F.
Kerrien, G.
Planchot, J.
Yesilada, E.
Martinelli, C.
Wilkinson, B.
Borjon, A.
Le-Cam, L.
Di-Maria, J. L.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65204Q-65204Q-12, 12p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11 11.

Tytuł :: Model-based mask verification.
Autorzy :: Foussadier, Frank
Sundermann, Frank
Vacca, Anthony
Wiley, Jim
Chen, George
Takigawa, Tadahiro
Hayano, Katsuya
Narukawa, Syougo
Kawashima, Satoshi
Mohri, Hiroshi
Hayashi, Naoya
Miyashita, Hiroyuki
Trouiller, Y.
Robert, F.
Vautrin, F.
Kerrien, G.
Planchot, J.
Martinelli, C.
Di-Maria, J.L.
Farys, Vincent; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2007, Issue 1, p673051-673051-8, 8p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12 12.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13 13.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14 14.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15 15.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16 16.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17 17.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18 18.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19 19.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20 20.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Konferencja

Szczegóły

Informacja

Prolib Integro - strona głównaUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Wyszukujesz frazę ""Vautrin, F."" wg kryterium: Autor

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Temat

Wydawca

Publikacja

Język