- Tytuł:
- Commercial-off-the-shelf algan/gan hemt device reliability study after exposure to heavy ion radiation.
- Autorzy:
- Źródło:
- Microelectronics Reliability. Jan2017, Vol. 68, p13-20. 8p.
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.