- Tytuł:
- Second Harmonic Generation characterization of SOI wafers: Impact of layer thickness and interface electric field
- Autorzy:
- Źródło:
- In Solid State Electronics May 2018 143:90-96
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.