- Tytuł:
-
Effect of periodic number of [Si/Sb
80 Te20 ]x multilayer film on its laser-inducedcrystallization studied by coherent phonon spectroscopy - Autorzy:
- Źródło:
- Nanoscale Research Letters. December 2012 7(1):1-7
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.