Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Was, M."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Carrier capture kinetics, deep levels, and isolation properties of β-Ga2O3 Schottky-barrier diodes damaged by nitrogen implantation.
Autorzy :
De Santi, C.
Fregolent, M.
Buffolo, M.
Wong, M. H.
Higashiwaki, M.
Meneghesso, G.
Zanoni, E.
Meneghini, M.
Pokaż więcej
Temat :
SCHOTTKY barrier diodes
CURRENT-voltage curves
SPACE charge
PLASMA sheaths
THERMIONIC emission
CARRIERS
ANALYTICAL mechanics
Źródło :
Applied Physics Letters; 12/28/2020, Vol. 117 Issue 26, p1-5, 5p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
High temperature (500 °C) operating limits of oxidized platinum group metal (PtOx, IrOx, PdOx, RuOx) Schottky contacts on β-Ga2O3.
Autorzy :
Hou, C.
York, K. R.
Makin, R. A.
Durbin, S. M.
Gazoni, R. M.
Reeves, R. J.
Allen, M. W.
Pokaż więcej
Temat :
PLATINUM group
HIGH temperatures
SCHOTTKY barrier
RADIOFREQUENCY sputtering
REACTIVE sputtering
THERMIONIC emission
SCHOTTKY effect
Źródło :
Applied Physics Letters; 11/16/2020, Vol. 117 Issue 20, p1-6, 6p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Terahertz photoresistivity of a high-mobility 3D topological insulator based on a strained HgTe film.
Autorzy :
Savchenko, M. L.
Otteneder, M.
Dmitriev, I. A.
Mikhailov, N. N.
Kvon, Z. D.
Ganichev, S. D.
Pokaż więcej
Temat :
TOPOLOGICAL insulators
ENERGY gaps (Physics)
CYCLOTRON resonance
FERMI level
CONDUCTION bands
SUBMILLIMETER waves
ELECTRON density
CYCLOTRONS
Źródło :
Applied Physics Letters; 11/16/2020, Vol. 117 Issue 20, p1-5, 5p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Intrinsic or nucleation-driven switching: An insight from nanoscopic analysis of negative capacitance Hf1−xZrxO2-based structures.
Autorzy :
Stolichnov, I.
Cavalieri, M.
Gastaldi, C.
Hoffmann, M.
Schroeder, U.
Mikolajick, T.
Ionescu, A. M.
Pokaż więcej
Temat :
ELECTRIC capacity
DOMAIN walls (String models)
MANUFACTURING processes
FERROELECTRIC crystals
INFORMATION processing
DIELECTRICS
DIGITAL preservation
Źródło :
Applied Physics Letters; 10/26/2020, Vol. 117 Issue 17, p1-5, 5p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies