Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Yang, Yihao"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Ferroelectric Properties and Polarization Fatigue of La:HfO2 Thin‐Film Capacitors.
Autorzy :
Li, Xiaofei
Li, Chen
Xu, Zhiyu
Li, Yongsheng
Yang, Yihao
Hu, Haihua
Jiang, Zhizheng
Wang, Jiayi
Ren, Jiaxin
Zheng, Chunyan
Lu, Chaojing
Wen, Zheng
Pokaż więcej
Temat :
CAPACITORS
LATTICE constants
THIN films
BEHAVIORAL assessment
FATIGUE
COMPUTER storage devices
MOVEMENT sequences
Źródło :
Physica Status Solidi - Rapid Research Letters; Apr2021, Vol. 15 Issue 4, p1-7, 7p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies