Autor: "You, Shuzhen" - OpacWWW - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""You, Shuzhen"" wg kryterium: Autor

Wyświetlanie 21-24 z 24

Zaznacz stronę

Skocz do pozycji: 21.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Understanding the Leakage Mechanisms and Breakdown Limits of Vertical GaN-on-Si p + n − n Diodes: The Road to Reliable Vertical MOSFETs.
Autorzy:: Mukherjee, Kalparupa
De Santi, Carlo
Buffolo, Matteo
Borga, Matteo
You, Shuzhen
Geens, Karen
Bakeroot, Benoit
Decoutere, Stefaan
Gerosa, Andrea
Meneghesso, Gaudenzio
Zanoni, Enrico
Meneghini, Matteo; Pokaż więcej
Temat:: BREAKDOWN voltage
METAL oxide semiconductor field-effect transistors
DIODES
LEAKAGE
GALLIUM nitride
ELECTRIC fields
Źródło:: Micromachines; Apr2021, Vol. 12 Issue 4, p445-445, 1p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 21-24 z 24

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies