- Tytuł:
- Scaling of E-mode power GaN-HEMTs for low voltage/low Ron applications: Implications on robustness
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability November 2023 150
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.