- Tytuł:
- Tin Oxide Nanowires: The Influence of Trap States on Ultrafast Carrier Relaxation
- Autorzy:
- Źródło:
- Nanoscale Research Letters; 20240101, Issue: Preprints p1-6, 6p
Periodyk
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.