- Tytuł:
- In-situ quantification of the surface roughness for facile fabrications of atomically smooth thin films
- Autorzy:
- Źródło:
- Nano Research. 15(2):1654-1659
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.