- Tytuł:
-
Structure, ferroelectric and aging properties of xBi
4 Ti3 O12 - (1-x)BiFe0.98 Mn0.02 O3 films. - Autorzy:
- Źródło:
- Journal of Materials Science: Materials in Electronics; Feb2024, Vol. 35 Issue 4, p1-14, 14p
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.