Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Zhang, Liansheng"" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł :
A method to correct hysteresis of scanning probe microscope images based on a sinusoidal model.
Autorzy :
Zhang, Liansheng
Chen, Xiaobo
Huang, Jichao
Li, Hongli
Chen, Lijuan
Huang, Qiangxian
Pokaż więcej
Temat :
HYSTERESIS
SCANNING probe microscopy
PIEZOELECTRIC actuators
BIT-mapped graphics
ATOMIC force microscopy
PIXELS
Źródło :
Review of Scientific Instruments; Feb2019, Vol. 90 Issue 2, pN.PAG-N.PAG, 8p, 2 Diagrams, 3 Charts, 5 Graphs
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies