Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Zhou, Shengqiang"" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Defect evolution in GaN thin film heterogeneously integrated with CMOS-compatible Si(100) substrate by ion-cutting technology
Autorzy:
Shi, HangningAff1, Aff2
Yi, AilunAff1, Aff2
Ding, JiaxinAff1, Aff2
Liu, XudongAff1, Aff2
Qin, QingchengAff1, Aff3
Yi, Juemin
Hu, Junjie
Wang, Miao
Cai, Demin
Wang, JianfengAff4, Aff5
Xu, KeAff4, Aff5
Mu, Fengwen
Suga, Tadatomo
Heller, René
Wang, MaoAff8, Aff9
Zhou, Shengqiang
Xu, WenhuiAff1, Aff2
Huang, KaiAff1, Aff2
You, TianguiAff1, Aff2, IDs1143202236680_cor19
Ou, XinAff1, Aff2, IDs1143202236680_cor20
Pokaż więcej
Źródło:
Science China Information Sciences. 66(11)
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies