Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""convolution"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
Radiation detection using fully depleted 50 μm thick Ni/n-4H-SiC epitaxial layer Schottky diodes with ultra-low concentration of Z1/2 and EH6/7 deep defects.
Autorzy :
Chaudhuri, Sandeep K.
Kleppinger, Joshua W.
Mandal, Krishna C.
Pokaż więcej
Temat :
EPITAXIAL layers
SCHOTTKY barrier diodes
NUCLEAR counters
PARTICLE detectors
CAPACITANCE measurement
ALPHA rays
SIGNAL convolution
Źródło :
Journal of Applied Physics; 9/21/2020, Vol. 128 Issue 11, p1-9, 9p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies