- Tytuł:
-
Reliability study of ultra-thin
dielectric films with variable thickness levels. - Autorzy:
- Źródło:
- IIE Transactions. Sep2012, Vol. 44 Issue 9, p744-753. 10p. 2 Diagrams, 2 Charts, 6 Graphs.
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.