Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Ukraiński (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Wyszukujesz frazę ""process variation"" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-20 z 691
Tytuł:
Improvement of production process variations of bolster spring of a train bogie manufacturing industry: a six-sigma approach
Autorzy:
Ilesanmi Daniyan
Adefemi Adeodu
Khumbulani Mpofu
Rendani Maladzhi
Grace Mukondeleli Kanakana-Katumba
Pokaż więcej
Temat:
DMAIC
process capability index
process variation
six-sigma
Engineering (General). Civil engineering (General)
TA1-2040
Źródło:
Cogent Engineering, Vol 10, Iss 1 (2023)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://doaj.org/toc/2331-1916
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/97057bde625f45909dd9566050e9ec91  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknieSzczegóły
Tytuł:
Electrical Characteristic and Power Fluctuations of GAA Si NS CFETs by Simultaneously Considering Six Process Variation Factors
Autorzy:
Sekhar Reddy Kola
Yiming Li
Pokaż więcej
Temat:
Complementary field-effect transistors
gate-all-around
nanosheet
vertically stacked
process variation effect
characteristic fluctuation
Chemical technology
TP1-1185
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Źródło:
IEEE Open Journal of Nanotechnology, Vol 4, Pp 229-238 (2023)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://ieeexplore.ieee.org/document/10330087/; https://doaj.org/toc/2644-1292
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/114d68a192984ae1ae3fcba7287bdf59  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Tytuł:
An Investigation of Process Variations and Mismatch Characteristics of Vertical Bipolar Junction Transistors
Autorzy:
Xiaonian Liu
Zichen Yang
Pokaż więcej
Temat:
Bipolar junction transistor (BJT)
process variation
mismatch
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Źródło:
IEEE Access, Vol 11, Pp 86480-86488 (2023)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://ieeexplore.ieee.org/document/10216944/; https://doaj.org/toc/2169-3536
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/7f2515aa205146f4b139701a370066db  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Tytuł:
A Design Methodology for Fault-Tolerant Neuromorphic Computing Using Bayesian Neural Network
Autorzy:
Di Gao
Xiaoru Xie
Dongxu Wei
Pokaż więcej
Temat:
neuromorphic computing
memristor crossbar array
process variation
Bayesian neural network
variational inference
Mechanical engineering and machinery
TJ1-1570
Źródło:
Micromachines, Vol 14, Iss 10, p 1840 (2023)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://www.mdpi.com/2072-666X/14/10/1840; https://doaj.org/toc/2072-666X
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/482a6f62aa50422f903e58743458bac9  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Tytuł:
Optimization of inversion mode and junctionless nanowire MOSFET for improved sensitivity to process induced variability
Autorzy:
Gautam, Rajni
Madan, JayaAff2, IDs1320402202480z_cor2
Pandey, RahulAff2, IDs1320402202480z_cor3
Pokaż więcej
Źródło:
Applied Nanoscience. 12(7):2161-2168
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Tytuł:
Effect of CNTFET Parameters on Novel High Stable and Low Power: 8T CNTFET SRAM Cell
Autorzy:
Elangovan, M.Aff1, IDs42341021003469_cor1
Gunavathi, K.
Pokaż więcej
Źródło:
Transactions on Electrical and Electronic Materials. 23(3):272-287
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Tytuł:
Exact design for the settling time of two-stage Miller compensated operational amplifiers
Autorzy:
Lv, Gaochong
Guo, YushunAff1, IDs10470021019553_cor2
Pokaż więcej
Źródło:
Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal. 110(1):151-163
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Tytuł:
Dynamic Error Recovery Flow Prediction Based on Reusable Machine Learning for Low Latency NAND Flash Memory Under Process Variation
Autorzy:
Minyoung Hwang
Jeongju Jee
Joonhyuk Kang
Hyuncheol Park
Seonmin Lee
Jinyoung Kim
Pokaż więcej
Temat:
NAND flash memory system
process variation
error management
reusable machine learning
transfer learning
meta learning
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Źródło:
IEEE Access, Vol 10, Pp 117715-117731 (2022)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://ieeexplore.ieee.org/document/9940942/; https://doaj.org/toc/2169-3536
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/6200721d560641998ebe08e47331b871  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Tytuł:
Rapid Design-Space Exploration for Low-Power Manycores Under Process Variation Utilizing Machine Learning
Autorzy:
Sohaib Majzoub
Resve Saleh
Mottaqiallah Taouil
Said Hamdioui
Mohamed Bamakhrama
Pokaż więcej
Temat:
Neural network
simulator
manycore
low-power
process variation
frequency scaling
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Źródło:
IEEE Access, Vol 10, Pp 70187-70203 (2022)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://ieeexplore.ieee.org/document/9810244/; https://doaj.org/toc/2169-3536
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/3bcd9f7adb854fe892dab5d02a6405b3  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Tytuł:
A 170 MHz to 330 MHz Wideband 90 nm CMOS RC–CR Phase Shifter with Integrated On-Line Amplitude Locked Loop Calibration for Hartley Image Rejection Transceiver
Autorzy:
Zhang, Xiaomeng
Li, Shuo
Siferd, Ray
Ren, Saiyu
Pokaż więcej
Źródło:
Circuits, Systems, and Signal Processing. 40(11):5249-5263
Czasopismo naukowe
Szczegóły
Wyświetlanie 1-20 z 691

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies