Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""van Donselaar E"" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Extremely thin layer plastification for focused‐ion beam scanning electron microscopy: an improved method to study cell surfaces and organelles of cultured cells.
Autorzy:
VAN DONSELAAR, E. G.
DORRESTEIJN, B.
POPOV‐ČELEKETIĆ, D.
VAN DE WETERING, W. J.
VERRIPS, T. C.
BOEKHOUT, T.
SCHNEIJDENBERG, C. T. W. M.
XENAKI, A. T.
VAN DER KRIFT, T. P.
MÜLLER, W. H.
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Microscopy. Jun2018, Vol. 270 Issue 3, p359-373. 15p. 4 Diagrams, 1 Chart, 1 Graph.
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies