Autor: Szyszka, Adam - OpacWWW

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Szyszka, Adam" wg kryterium: Autor

Wyświetlanie 1-10 z 10

Zaznacz stronę

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Application of AFM technique for creation of patterns in nanoscale.
Autorzy:: RAMIĄCZEK-KRASOWSKA, MARIA
SZYSZKA, ADAM
STAFINIAK, ANDRZEJ
PASZKIEWICZ, REGINA
PASZKIEWICZ, BOGDAN
TŁACZAŁA, MAREK; Pokaż więcej
Źródło:: Optica Applicata. 2011, Vol. 41 Issue 2, p307-314. 8p.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Characterization of A epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy.
Autorzy:: SZYSZKA, ADAM adam.szyszka@pwr.wroc.pl
ŚCIANA, BEATA
RADZIEWICZ, DAMIAN
MACHERZYŃSKI, WOJCIECH
PASZKIEWICZ, BOGDAN
TŁACZAŁA, MAREK; Pokaż więcej
Źródło:: Optica Applicata. 2011, Vol. 41 Issue 2, p281-288. 8p.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Surface photocurrent nonuniformities in MSM detectors fabricated in gallium nitride heteroepitaxial layers.
Autorzy:: SZYSZKA, ADAM adam.szyszka@pwr.wroc.pl
PASZKIEWICZ, BOGDAN
PASZKIEWICZ, REGINA
TŁACZAŁA, MAREK; Pokaż więcej
Źródło:: Optica Applicata. 2009, Vol. 39 Issue 4, p723-728. 6p. 1 Diagram, 3 Graphs.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Application of nanoscratching in electronic devices.
Autorzy:: RAMIĄCZEK-KRASOWSKA, MARIA
SZYSZKA, ADAM
PRAŻMOWSKA, JOANNA
PASZKIEWICZ, REGINA
TŁACZAŁA, MAREK; Pokaż więcej
Źródło:: Optica Applicata. 2009, Vol. 39 Issue 4, p711-716. 6p. 7 Graphs.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Influence of materials grain structure on the performance of optoelectronic devices.
Autorzy:: SZYSZKA, ADAM adam.szyszka@pwr.wroc.pl
PASZKIEWICZ, BOGDAN
WOŚKO, MATEUSZ
TŁACZAŁA, MAREK; Pokaż więcej
Źródło:: Optica Applicata. 2005, Vol. 35 Issue 3, p549-554. 6p.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Properties of AlNx thin films prepared by DC reactive magnetron sputtering.
Autorzy:: STAFINIAK, ANDRZEJ
MUSZYŃSKA, DONATA
SZYSZKA, ADAM
PASZKIEWICZ, BOGDAN
PTASIŃSKI, KONRAD
PATELA, SERGIUSZ
PASZKIEWICZ, REGINA
TŁACZAŁA, MAREK; Pokaż więcej
Temat:: ALUMINUM nitride
THIN films
MAGNETRON sputtering
DIELECTRICS
ELLIPSOMETRY
ATOMIC force microscopy
Źródło:: Optica Applicata; 2009, Vol. 39 Issue 4, p717-722, 6p, 1 Chart, 4 Graphs

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Applications of functionally graded materials in optoelectronic devices.
Autorzy:: WOŚKO, MATEUSZ
PASZKIEWICZ, BOGDAN
PIASECKI, TOMASZ
SZYSZKA, ADAM
PASZKIEWICZ, REGINA
TŁACZAŁA, MAREK; Pokaż więcej
Temat:: OPTOELECTRONIC devices
FUNCTIONALLY gradient materials
OPTICAL detectors
STRENGTH of materials
SEMICONDUCTOR diodes
HETEROJUNCTIONS
Źródło:: Optica Applicata; 2005, Vol. 35 Issue 3, p663-667, 5p

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 10

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "Szyszka, Adam" wg kryterium: Autor

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Temat

Wydawca

Język